X射线测定应力以【yǐ】衍射花【huā】样特征的【de】变化【huà】作为【wéi】应变的量度。具有非破坏【huài】性【xìng】，可测小范围【wéi】局部应力，可【kě】测【cè】表层应力，可【kě】区别【bié】应力类型、测【cè】量时无需使材料处于无应力【lì】状态等【děng】优【yōu】点，但其测量精确度受组织结构的影响较大，X射线【xiàn】也【yě】难以【yǐ】测定动态瞬时应力。

宏观应力的测定 宏观残留应力的方【fāng】向和大小，直接【jiē】影【yǐng】响机器零件的使用【yòng】寿命。利用测【cè】量点阵平【píng】面【miàn】在不同方向上的间【jiān】距的变化【huà】，可计【jì】算出【chū】残留应力的大小和方向。
微观应力【lì】的测定【dìng】 由衍射花【huā】样的形状和强【qiáng】度可计算晶粒和微【wēi】应力的大【dà】小。