一、仪器简介及原理

    磁致伸缩薄膜【mó】材料在微机电系统(MEMS)、水下声纳【nà】等领域有着广【guǎng】泛【fàn】的应用，由于磁致伸【shēn】缩薄【báo】膜的【de】磁致伸缩系数λ的【de】绝对值很小，因此对薄膜材料的磁致【zhì】伸缩系数λ进行直接【jiē】测量十分困难。本仪【yí】器【qì】采用激【jī】光光杠杆放大【dà】的方法测量磁致【zhì】伸【shēn】缩薄膜悬【xuán】臂梁的【de】微挠度，从而实现磁致伸缩系数【shù】λ的【de】测试。

二、仪器用途
    测量【liàng】块体或【huò】薄【báo】膜材料的磁致伸缩系【xì】数λ和磁致伸【shēn】缩系数【shù】曲线等【děng】。可用于高【gāo】等学校、科研院所以及相【xiàng】关【guān】企业的科研教学和【hé】生产测试中。
三、仪器配置构成

薄膜磁致伸缩特性测量系统配置构成表

 
四、技术指标

    1.主机【jī】可调恒流源：0.3 mA ~15mA
    2.主机功耗：<50W
    3.扫描电源: 0~30mA
    4.扫描周期: 8s~80s 
    5.磁场变【biàn】化范围【wéi】: 0~1.0T
    6.PSD激光位移传感器：有效检测面积【jī】21x21mm，精【jīng】度【dù】6&mu;m