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仪器名称：	TTRⅢ多功能X射线衍射仪	厂商：	日本理学公司
型号：	TTRⅢ	购进年份：
联系人email：	test@curecon.net	联系电话：	(010) 6233 3720
性能参数：	1.X射线发生器最大额定输出功率: 18KW 管电压: 20-60kV(稳【wěn】定【dìng】度<+0.01%) 管电流: 10-300mA 靶材【cái】: Cu 焦点【diǎn】尺寸: 0.5mm x 10mm 2.测角仪垂直式θ/θ测【cè】角【jiǎo】仪，样品水平放置不【bú】动控【kòng】制方式【shì】: θs/θd连【lián】动和θs/θd单动测角仪半径: 285mm 测量范围【wéi】（2θ）：-10～154° 最小步长和【hé】重复性： 1°/10000 扫描速【sù】度（2θ）： 0.0002～100°/分扫【sǎo】描方式：连续扫描/步进扫描单色【sè】器：石【shí】墨晶体 3.计数器闪烁【shuò】计数器S.C. 线性计数【shù】：70万cps 最大计【jì】数：100万cps 4.多层膜反射镜使用波【bō】长：CuKα 出射角度：≤0.06°(普通5°) Kα:Kβ：≥99.5% 聚焦光路和平行光路自动切换【huàn】
功能用途：	TTRⅢ多功能X射线衍射仪【yí】是日本理学公司【sī】最新【xīn】推出的一款集粉【fěn】末衍射、应力【lì】和极图分【fèn】析、小角【jiǎo】散射【shè】、薄膜【mó】分析等为【wéi】一体的旗【qí】舰【jiàn】级X射线分析设备，可【kě】以进行材料的物相鉴定及定【dìng】量分析【xī】；原子【zǐ】排列与占位分【fèn】析；纳【nà】米材料【liào】的晶粒【lì】度和颗【kē】粒度【dù】测定；应力、织构、取向度和结晶【jīng】度的测定；薄膜物相【xiàng】及物性分析等。