检测项目

材料XPS检测

常规仪器

X射线光电子能谱分析XPS

联系电话

010-62333720

E-Mail

test@curecon.net

检测周期

9-21个工作日

检测参数介绍：

XPS可【kě】对固体样【yàng】品表面化学组成【chéng】、化学元素像、化学【xué】价态、价带结构、晶【jīng】体结构【gòu】分析【xī】及深度剖析。可进行金【jīn】属、合金【jīn】中夹【jiá】杂物成分分析，炉渣【zhā】、矿相、材料中元素及【jí】其在【zài】体相中的深【shēn】度【dù】分布分析等，能给出【chū】逐层元素变化的具体信息（包括价态、含量、分【fèn】布及【jí】元素的图【tú】像）。适【shì】用【yòng】于非放射性和非挥发【fā】性【xìng】金【jīn】属、合金等导体、半【bàn】导体、绝缘体，粉末【mò】、薄膜【mó】等。

检测项目：固体【tǐ】表面化学组成、化【huà】学元素像、化【huà】学价态、价带结构【gòu】、晶【jīng】体结构分析等

测试要求：

1、测试深度在3-5nm，分析【xī】区域<1mm2，常温测试；测试除【chú】H、He以【yǐ】外的元素种类【lèi】、价【jià】态及含量。

2、测试样品为【wéi】粉【fěn】末【mò】，小于5*5*2mm，厚度一定【dìng】要低【dī】于2mm，尽可能薄；长和宽在2mm～5mm之间。