检测参数

定量分析

常规仪器

X射线光电子能谱分析XPS

联系电话

010-62333720

E-Mail

test@curecon.net

检测周期

9-21个工作日

检测参数介绍：

XPS可根据能谱图中光电子谱线强度(光电子峰的面积)，测定反【fǎn】应原子的含量或相【xiàng】对浓度。既可测定【dìng】元素的【de】相对浓【nóng】度，又可测定【dìng】相同元【yuán】素【sù】的不同氧化态的相对浓度。

测试要求：

1、测试深度在3-5nm，分析区域<1mm2，常温测试

2、测试【shì】样品为粉末，小于【yú】5*5*2mm，厚度一定要低于【yú】2mm，尽可能薄；长和宽【kuān】在2mm～5mm之【zhī】间。